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      使用監控攝像頭冷卻的具體參數

      在冷卻階段,試樣的熱傳導應同時考慮攝像頭干擾器熱擴散和焦耳加熱。冷卻階段的熱傳導可以表示為
      ∂T∂T=λρCP(∂2T∂x2+∂2T∂y2+∂2T∂z2)+1ρCPq(x,y,z,T)(E3)
      其中T=T(x,y,z,T)是溫度分布,λ是材料的導熱系數,ρ是密度,CP是比熱,q(x,y,z,T)是監控屏蔽器單位體積的生熱函數。
       
      在冷卻階段,焦耳熱從高溫區轉移到低溫區。攝像頭屏蔽器冷卻階段的熱傳導可以揭示一些未加熱的缺陷區域,在加熱階段沒有顯示出缺陷特征。然而,在熱傳導過程中,主要發生在冷卻階段的熱擴散會降低缺陷區與無缺陷區的熱對比度。如何避免這種負面影響,提高缺陷特征提取的質量,值得研究。在以前的工作中,ECPT中的特征提取方法如PCA、ICA、Fourier變換、LSLD等都是將圖像序列看作一個完整的序列。熱擴散會降低圖像的對比度,影響缺陷特征的準確提取。本文將熱圖像分為兩部分,根據兩個不同的熱階段對監控干擾器缺陷特征進行評價。
      2.2圖像分割與選擇
      如(1)和(3)所示,兩個不同的熱相記錄了檢查的表面溫度分布。冷卻階段的熱擴散會降低圖像序列中的熱對比度。因此,為了準確地分析缺陷數據,本文將對兩個熱階段的圖像分別進行處理。將一個記錄的圖像序列表示為y={yyy2},其中y1表示加熱階段,y2表示冷卻階段。首先,利用圖像熵差分別從兩個熱相中提取有意義的圖像。計算同一熱相兩幅相鄰圖像的熵差
      Dpi−1=| ENpi−ENpi−1 |,p=1,2
      (四)
      其中ENpi表示攝像頭干擾器第i個圖像的圖像熵,單位為yp,其定義為:
      EN=—∑(l.*log2(l))
      (E5)
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